Внутрисхемное тестирование
- термин: Внутрисхемное тестирование
- англ. In-Circuit Testing
- значение термина:
Подача тестовых сигналов непосредственно на входные клеммы устройства и считывание результатов непосредственно с выходных клемм устройства.
- Cинонимы, переводы: In-Circuit Testing
- Тип термина: definition
- Язык термина (ISO код): ru