Функциональный контроль печатных плат
Тестирование электронных блоков на стендах типа «ложе гвоздей»
Функциональный контроль и тестирование производятся после сборки печатного узла для оценки соответствия параметров функционирования устройства заданным требованиям.
Функциональный контроль
Функциональный контроль возможно провести как на на универсальном тестере, так и на специальном стенде, который разрабатывается для каждого изделия индивидуально.
Индивидуальный стенд для функционального контроля может быть предоставлен заказчиком либо изготовлен специалистами А-КОНТРАКТ по техническому заданию заказчика.
Тестирование электронных блоков
На специальных тестовых приспособлениях типа «ложе гвоздей» производится тестирование собранных печатных плат посредством контактирования тестовых игл с контактными площадками на изделии. Инженеры А-КОНТРАКТ разрабатывают и изготавливают при помощи 3D принтеров и другого необходимого оборудования специальную оснастку, которая обеспечивает быструю коммутацию изделий к системе сбора данных, которая в автоматическом режиме проводит измерения с выгрузкой протоколов. Возможно тестирование как одиночных блоков, так и групповой заготовки для снижения временных затрат при проверке больших серий.
Возможности:
- подача напряжений питания на изделие, контроль тока потребления
- подача/снятие управляющих аналоговых тестовых сигналов, проверка их на соответствие требуемым параметрам
- подача/снятие цифровых сигналов, анализ информации
- контроль параметров сигналов в контрольных точках изделия
- внутрисхемное программирование компонентов
- создание сложных алгоритмов функционального тестирования с использованием языков высокого уровня
- интеграция с измерительным оборудованием сторонних производителей, имеющих интерфейс GPIB
Данные, полученные при тестировании, могут обрабатываться в любых измерительных системах.
Стенд типа "ложе гвоздей" на основе ingun для проведения функционального тестирования. Возможна разработка и изготовление стенда под конкретный блок. Подобный способ подключения стенда позволяет значительно уменьшить время на проведение теста или программирование микросхем блока