Контроль качества электронных компонентов

Основная цель входного контроля электронных компонентов - не допустить в монтаж дефектные и контрафактные компоненты.

Входной контроль производится выборочно, перед запуском плат в монтаж. Оценка качества ЭК происходит по следующим критериям:

  • по внешнему виду компонентов оценивается отсутствие повреждений выводов и корпуса электронного компонента
  • по соответствию электрических параметров компонентов заданным в спецификации (номинал и допуск для пассивных компонентов, контроль полупроводниковых компонентов и др.)
  • по состоянию упаковки компонентов (стандартная или нестандартная упаковка, её целостность)

При подозрении на наличие дефектов в тестируемом компоненте  производится 100% контроль всей партии.

Контроль качества микросхем осуществляется при помощи установки рентген-конроля, при этом выявляются такие дефекты как отсутствие кристалла, нарушение разварки, пересортиц.

В случае, если при проверке возникают сомнения в качестве покрытия выводов электронного компонента, проводится тест паяемости, имитирующий условия пайки при монтаже изделия. На основании результатов теста принимается решение о возможности допуска в монтаж данной партии компонентов.

При выявлении дефектов проводится обязательная работа с поставщиком.

Задать вопрос Новости

Функционирование вычислительных чипов основано на передаче и обработке данных в определённой среде. Традиционно, такой средой является электрический…

ПЛК, программируемые логические контроллеры, появившиеся больше полувека назад, на сегодняшний день являются неотъемлемой частью любого…

Аналитики компании Gartner в своём последнем отчёте сообщили о замедлении роста мирового рынка полупроводниковой продукции, более того, по мнению…

Группа российских учёных создала библиотеку алгоритмов, которая существенно ускорит разработку квантовых приложений и вычислительных систем,…

На сегодняшний день использование мобильных электронных устройств (смартфонов, планшетов и т.п.) не предполагает возможности кардинального улучшения…

Группа учёных из Сколтеха и МГУ опубликовала в журнале Chemical Science результаты своей работы с инновационным материалом NiBTA. Исследователям…

В статье «Шаг по направлению к квантовой электронике, или жизнь в эпоху постМура», опубликованной в журнале «Вектор высоких технологий» №52 (2022),…