Основная цель входного контроля электронных компонентов - не допустить в монтаж дефектные и контрафактные компоненты.
Входной контроль производится выборочно, перед запуском плат в монтаж. Оценка качества ЭК происходит по следующим критериям:
При подозрении на наличие дефектов в тестируемом компоненте производится 100% контроль всей партии.
Контроль качества микросхем осуществляется при помощи установки рентген-конроля, при этом выявляются такие дефекты как отсутствие кристалла, нарушение разварки, пересортиц.
В случае, если при проверке возникают сомнения в качестве покрытия выводов электронного компонента, проводится тест паяемости, имитирующий условия пайки при монтаже изделия. На основании результатов теста принимается решение о возможности допуска в монтаж данной партии компонентов.
При выявлении дефектов проводится обязательная работа с поставщиком.
В ОКБ Сухого разработали и протестировали новый беспилотный летательный аппарат, который имеет функции вертикального взлета и посадки, благодаря чему…
Специалистам Федерального исследовательского центра «Красноярский научный центр Сибирского отделения Российской Академии наук» (ФИЦ КНЦ СО РАН)…
Компания А-КОНТРАКТ приняла участие в крупнейшей в России международной выставке электроники ExpoElectronica. Выставка принесла много новых полезных…
По данным Ассоциации полупроводниковой промышленности США (Semiconductor Industry Association, SIA), объёмы продаж на мировом рынке микросхем в 2023 г…
Группа учёных из ЛЭТИ и СПбГУ объявила об открытии нового вида наночастиц, выделенных из раковин морских организмов фораминифер. По мнению учёных,…
В данной статье в переводе А-КОНТРАКТ простым языком описывается проблематика полупроводниковой фотоники.
В Тамбовской области будет налажено производство беспилотных комбайнов, выпуск которых планируется осуществлять совместно с белорусским заводом…