Контроль качества электронных компонентов

Основная цель входного контроля электронных компонентов - не допустить в монтаж дефектные и контрафактные компоненты.

Входной контроль производится выборочно, перед запуском плат в монтаж. Оценка качества ЭК происходит по следующим критериям:

  • по внешнему виду компонентов оценивается отсутствие повреждений выводов и корпуса электронного компонента
  • по соответствию электрических параметров компонентов заданным в спецификации (номинал и допуск для пассивных компонентов, контроль полупроводниковых компонентов и др.)
  • по состоянию упаковки компонентов (стандартная или нестандартная упаковка, её целостность)

При подозрении на наличие дефектов в тестируемом компоненте  производится 100% контроль всей партии.

Контроль качества микросхем осуществляется при помощи установки рентген-контроля, при этом выявляются такие дефекты как отсутствие кристалла, нарушение разварки, пересортиц.

В случае, если при проверке возникают сомнения в качестве покрытия выводов электронного компонента, проводится тест паяемости, имитирующий условия пайки при монтаже изделия. На основании результатов теста принимается решение о возможности допуска в монтаж данной партии компонентов.

При выявлении дефектов проводится обязательная работа с поставщиком.

Задать вопрос Новости

Первый импортозамещённый самолёт МС-21-310, изготовленный по серийным технологиям, впервые совершил полёт. Испытания проходили на аэродроме Иркутского…

В Новосибирском государственном техническом университете НЭТИ в рамках программы «Приоритет-2030» разработали конструкцию и технологию изготовления…

Опытный образец тягового электродвигателя ДТА-380А направлен на сертификационные испытания. Назначение двигателя — первый отечественный пассажирский…

Учёные Томского политеха разработали технологические подходы постобработки люминесцентной керамики, позволяющие усилить свечение материала без…

Команда исследователей из Университета штата Луизиана создала квантовый материал, способный различать и переносить разные квантовые состояния при…

Группа учёных из ИТМО и Пекинского университета создали компактный энергоэффективный элемент оптической памяти — микроскопическую оптическую «ловушку»…

В статье, переведённой с английского специалистами А-КОНТРАКТ,  рассматриваются типы переходных отверстий, используемых в современных печатных платах,…