Контроль качества электронных компонентов

Основная цель входного контроля электронных компонентов - не допустить в монтаж дефектные и контрафактные компоненты.

Входной контроль производится выборочно, перед запуском плат в монтаж. Оценка качества ЭК происходит по следующим критериям:

  • по внешнему виду компонентов оценивается отсутствие повреждений выводов и корпуса электронного компонента
  • по соответствию электрических параметров компонентов заданным в спецификации (номинал и допуск для пассивных компонентов, контроль полупроводниковых компонентов и др.)
  • по состоянию упаковки компонентов (стандартная или нестандартная упаковка, её целостность)

При подозрении на наличие дефектов в тестируемом компоненте  производится 100% контроль всей партии.

Контроль качества микросхем осуществляется при помощи установки рентген-конроля, при этом выявляются такие дефекты как отсутствие кристалла, нарушение разварки, пересортиц.

В случае, если при проверке возникают сомнения в качестве покрытия выводов электронного компонента, проводится тест паяемости, имитирующий условия пайки при монтаже изделия. На основании результатов теста принимается решение о возможности допуска в монтаж данной партии компонентов.

При выявлении дефектов проводится обязательная работа с поставщиком.

Задать вопрос Новости

Учёные из консорциума Национального центра физики и математики (НЦФМ) впервые в стране получили мемристорные микросхемы, предназначенные для создания…

Ученые Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники (ТУСУР) совместно с компанией «Решетнев» спроектировали устройство,…

Специалистами Пермского национального исследовательского политехнического университета (ПНИПУ) представлена компактная лазерная установка,…

С 14 по 16 апреля 2026 года А-КОНТРАКТ принял участие в 27-й международной выставке электронных компонентов, модулей и технологий ExpoElectronica,…

Интервью директора А-КОНТРАКТ М. В. Поляничко опубликованно в журнале «Электроника НТБ» №3'2026.

Низкоорбитальные спутниковые системы и требования к электронным сборкам для них.

Специалисты Национального исследовательского университета МИЭТ разработали методику точного мониторинга работы микросхем, предназначенных для…