Основная цель входного контроля электронных компонентов - не допустить в монтаж дефектные и контрафактные компоненты.
Входной контроль производится выборочно, перед запуском плат в монтаж. Оценка качества ЭК происходит по следующим критериям:
При подозрении на наличие дефектов в тестируемом компоненте производится 100% контроль всей партии.
Контроль качества микросхем осуществляется при помощи установки рентген-контроля, при этом выявляются такие дефекты как отсутствие кристалла, нарушение разварки, пересортиц.
В случае, если при проверке возникают сомнения в качестве покрытия выводов электронного компонента, проводится тест паяемости, имитирующий условия пайки при монтаже изделия. На основании результатов теста принимается решение о возможности допуска в монтаж данной партии компонентов.
При выявлении дефектов проводится обязательная работа с поставщиком.
Команда исследователей из Университета штата Луизиана создала квантовый материал, способный различать и переносить разные квантовые состояния при…
Группа учёных из ИТМО и Пекинского университета создали компактный энергоэффективный элемент оптической памяти — микроскопическую оптическую «ловушку»…
В статье, переведённой с английского специалистами А-КОНТРАКТ, рассматриваются типы переходных отверстий, используемых в современных печатных платах,…
Химики Санкт-Петербургского государственного университета создали и испытали защитный полимерный слой, помогающий предотвратить тепловой разгон…
Международная группа исследователей разработала электронное устройство, которое вносит вклад в развитие нейроморфных вычислений.
В Кемеровской области началось массовое производство одноместных электрических летательных аппаратов вертикального взлёта и посадки (eVTOL).
Группа инженеров Университета Тафтса разработала гибкую электронику, основой которой служат интегральные схемы из нитей. Такие схемы способны…