Автоматический оптический контроль

Автоматический оптический поиск и локализация дефектов установки компонентов и паяных соединений производится при помощи трёх установок Zenith Koh Young.

Установка Zenith Koh Young является мировым лидером среди Full 3D систем АОИ по скорости выполнения инспекции. Zenith Koh Young обеспечивает точность измерений реальной профилометрической формы компонентов до 1 мкм. Системы Zenith Koh Young позволяют нам выполнять автоматическую оптическую инспекцию печатных узлов в сжатые сроки, сохраняя при этом максимальную надёжность качества проверки.

Программирование АОИ под конкретное изделие производится аттестованными сотрудниками. Проверка печатных узлов осуществляется контролёрами по данным, предоставленным АОИ. Статистика по проверенным блокам и выявленным дефектам хранится на сервере. Статистика собирается и хранится с момента появления на нашем производстве первой установки АОИ в 2006 году.

Мы применяем АОИ практически на всех заказах.

Исключением могут быть очень простые в монтаже блоки, если на них производится функциональный контроль.

Выявляемые дефекты:

  • Наличие/отсутствие компонентов
  • Точность позиционирования (смещение компонента)
  • Поворот компонента
  • Полярность компонента
  • Перевёрнутое положение компонента
  • Приподнятые выводы микросхем, приподнятый корпус
  • Эффект «надгробного камня»
  • Избыток припоя или непропаи выводов компонентов
  • Перемычки припоя между выводами микросхем
  • Считывание и распознавание маркировки компонентов
  • и  др.

Технические параметры контроля

Возможности систем автоматизированного оптического контроля позволяют нашим специалистам осуществлять:

  1. Контроль электронных блоков с разрешением 22 мкм и скоростью до 15 см2/сек.
  2. Инспекцию паянных соединений, выполненных по бессвинцовой технологии, компонентов типоразмеров до 0201, шагом выводов до 0,3 мм. с помощью передовых 3D технологий
  3. Оценку качества соединений после оплавления и установки компонентов печатных плат в соответствии с критериями стандарта IPC-A-610

Исправление обнаруженного дефекта производится  квалифицированными специалистами в соответствии со стандартом IPC-7711/21.

* Перед началом процедуры инспекции все изделия маркируются индивидуальным штрих-кодом, позволяющим идентифицировать изделие на этапах контроля.

 

Задать вопрос Новости

Ассоциация SEMI и компания TechInsights подвели итоги за 4 квартал 2024 год по рынку полупроводников и дали прогноз на 2025 год. 

Отечественные учёные работают над созданием нового вида беспилотников. Это будут летающие грузовые БПЛА, которые найдут применение на нефтегазовых и…

В последние четыре года мы наблюдаем стремительный рост количества компаний, которые сосредоточили свои усилия на разработках нового аппаратного и…

С 15 по 17 апреля в КВЦ «Крокус Экспо» (Москва) состоится крупнейшая российская отраслевая выставка электроники ExpoElectronica. На выставке будут…

В феврале этого года наша компания успешно прошла аудит представителей одного из ключевых заказчиков, крупной судостроительной компании. Результаты…

Желаем радостного настроения, солнечных весенних дней и искренних улыбок. Пусть Вам сопутствует успех, пусть удаётся всё то, к чему вы стремитесь.…

Рост объёмов производства современной электроники обуславливает увеличение спроса на пластины карбида кремния (SiC). Это особенно характерно для таких…