Контроль качества отмывки печатных узлов

Контроль качества отмывки проводится после отмывки электронных блоков с целью определения наличия на их поверхности остатков  флюса и других загрязнений.

Контроль качества отмывки электронных блоков крайне важен для изделий, подлежащих эксплуатации в тяжелых климатических условиях, таких как повышенная влажность, перепады температур и т.п..

Проверка на наличие загрязнений производится после каждой отмывки. В зависимости от сложности изделий и особенностей технологического процесса контроль проходят либо 100% блоков текущей партии, либо выборочно один или несколько печатных узлов из монтируемой серии.

В случае, если изготовление электронных блоков предполагает нанесение влагозащитного покрытия, качество отмывки оценивается для каждого печатного узла, что позволяет избежать дефектов лакировки.

Дополнительно для контроля качества отмывки плат применяются увеличительные приборы кратностью до 10×. А также, при необходимости, проводятся химические тесты Zestron Flux Test и Zestron RESIN Test.

Для исключения вероятности загрязнения изделия в процессе отмывки сама отмывочная жидкость также проходит предварительную проверку, во время которой оценивается качество деионизированной воды в системе фильтрации и регенерации воды.

Задать вопрос Новости

Согласование (или подгонка) импеданса — это способ настройки входного импеданса нагрузки или выходного импеданса источника ее сигнала. Оно выполняется…

А-КОНТРАКТ — это не только коллектив профессионалов, но и сторонники активного образа жизни. 28 сентября наша дружная спортивная команда из 8 бегунов…

Группе исследователей из Сиднейского университета удалось выполнить полный набор универсальных логических операций для квантовых кодов…

В России разработали платформу для высокоскоростной спутниковой связи. Группа российских учёных создала низкоорбитальный комплекс для высокоскоростной…

Отечественная компания ICL Services представила свою новую разработку — платформу «БАС.Логистика», которая поможет выполнять менеджмент доставки…

Международная группа исследователей в ходе работ с полупроводниковыми материалами на основе нитрида галлия (GaN) сумела разработать эффективный метод…

Тенденция к миниатюризации электронных устройств обуславливает разработку всё более и более мелких электронных компонентов. Это актуально и для…