Контроль качества отмывки проводится после отмывки электронных блоков с целью определения наличия на их поверхности остатков флюса и других загрязнений.
Контроль качества отмывки электронных блоков крайне важен для изделий, подлежащих эксплуатации в тяжелых климатических условиях, таких как повышенная влажность, перепады температур и т.п..
Проверка на наличие загрязнений производится после каждой отмывки. В зависимости от сложности изделий и особенностей технологического процесса контроль проходят либо 100% блоков текущей партии, либо выборочно один или несколько печатных узлов из монтируемой серии.
В случае, если изготовление электронных блоков предполагает нанесение влагозащитного покрытия, качество отмывки оценивается для каждого печатного узла, что позволяет избежать дефектов лакировки.
Дополнительно для контроля качества отмывки плат применяются увеличительные приборы кратностью до 10×. А также, при необходимости, проводятся химические тесты Zestron Flux Test и Zestron RESIN Test.
Для исключения вероятности загрязнения изделия в процессе отмывки сама отмывочная жидкость также проходит предварительную проверку, во время которой оценивается качество деионизированной воды в системе фильтрации и регенерации воды.
Интервью директора А-КОНТРАКТ М. В. Поляничко опубликованно в журнале «Электроника НТБ» №3'2026.
Низкоорбитальные спутниковые системы и требования к электронным сборкам для них.
Специалисты Национального исследовательского университета МИЭТ разработали методику точного мониторинга работы микросхем, предназначенных для…
Национальный исследовательский центр «Институт имени Жуковского» получил патент на конструкцию перспективного пассажирского самолёта, способного…
Специалисты Московского физико-технического института проанализировали перспективы создания гибридных вычислительных систем, в которых традиционные…
С 14 по 16 апреля 2026 года А-КОНТРАКТ, один из российских контрактных производителей электроники, традиционно примет участие в выставке…
Созданная технология открывает путь к недорогому серийному выпуску компактных камер, способных работать в расширенном спектральном диапазоне.…