Контроль качества отмывки печатных узлов

Контроль качества отмывки проводится после отмывки электронных блоков с целью определения наличия на их поверхности остатков  флюса и других загрязнений.

Контроль качества отмывки электронных блоков крайне важен для изделий, подлежащих эксплуатации в тяжелых климатических условиях, таких как повышенная влажность, перепады температур и т.п..

Проверка на наличие загрязнений производится после каждой отмывки. В зависимости от сложности изделий и особенностей технологического процесса контроль проходят либо 100% блоков текущей партии, либо выборочно один или несколько печатных узлов из монтируемой серии.

В случае, если изготовление электронных блоков предполагает нанесение влагозащитного покрытия, качество отмывки оценивается для каждого печатного узла, что позволяет избежать дефектов лакировки.

Дополнительно для контроля качества отмывки плат применяются увеличительные приборы кратностью до 10×. А также, при необходимости, проводятся химические тесты Zestron Flux Test и Zestron RESIN Test.

Для исключения вероятности загрязнения изделия в процессе отмывки сама отмывочная жидкость также проходит предварительную проверку, во время которой оценивается качество деионизированной воды в системе фильтрации и регенерации воды.

Задать вопрос Новости

При поддержке А-КОНТРАКТ в журнале « СВЧ-электроника»  №1 2022 опубликована новая статья.

Кремниевая оптическая линия связи, объединяющая две различные технологии мультиплексирования, была продемонстрирована научному сообществу группой…

На базе Центра коллективного пользования «Микросистемная техника и электронная компонентная база» МИЭТ стартовала научно-исследовательская программа…

Развитие технологий в современной электронике направлено на уменьшение габаритов и увеличение производительности разрабатываемых и производимых…

Исследователи из «Росэлектроники» и Институт электрофизики Уральского отделения РАН сообщили о начале работ с ферритовыми материалами с целью…

Группа учёных из Японского Национального института материаловедения (National Institute for Materials Science, NIMS) и Токийского университета…