Периферийное сканирование (Boundary Scan)

Технология периферийного сканирования позволяет выявить дефекты монтажа микросхем, обладающих интерфейсами JTAG. Этот метод контроля качества монтажа электронных блоков особенно актуален при отсутствии физического доступа к выводам электронных компонентов, установленных на печатную плату.

Технология периферийного сканирования расширяет возможности тестовой установки, существенно увеличивая тестовое покрытие, особенно для сложных цифровых изделий, содержащих процессоры, различные виды памяти, программируемую логику, в том числе компоненты с BGA корпусами, в которых ограничен или невозможен физический доступ к внешним и внутренним цепям.

Объединение технологий внутрисхемного контроля и периферийного сканирования, позволяет выполнять особый набор тестов, оптимизируя число перемещений пробников, вследствие чего удается существенно сократить время наладки и выявления сложных дефектов, обнаружить которые трудно или невозможно другими средствами.

Только с помощью периферийного сканирования можно тестировать:

  • микросхемы, которые поддерживают JTAG и не только в корпусе BGA,
  • микросхемы памяти при наличии на них библиотеки BSDL
  • компоненты, которые можно протестировать только с подачей питания на печатный узел

Для того, чтобы у производителя была возможность применить технологию периферийного сканирования для контроля качества изделия,  разработчик печатного узла должен на этапе проектирования предусмотреть последовательное соединение микросхем, поддерживающих JTAG,  а также наличие разъема, через который можно получить доступ к JTAG компонентам.

Для проведения периферийного сканирования в А-КОНТРАКТ используется анализатор периферийного (граничного) сканирования x1149.

Преимущества анализатора периферийного (граничного) сканирования x1149

 

 

Задать вопрос Новости

При поддержке А-КОНТРАКТ в журнале « СВЧ-электроника»  №1 2022 опубликована новая статья.

Кремниевая оптическая линия связи, объединяющая две различные технологии мультиплексирования, была продемонстрирована научному сообществу группой…

На базе Центра коллективного пользования «Микросистемная техника и электронная компонентная база» МИЭТ стартовала научно-исследовательская программа…

Развитие технологий в современной электронике направлено на уменьшение габаритов и увеличение производительности разрабатываемых и производимых…

Исследователи из «Росэлектроники» и Институт электрофизики Уральского отделения РАН сообщили о начале работ с ферритовыми материалами с целью…

Группа учёных из Японского Национального института материаловедения (National Institute for Materials Science, NIMS) и Токийского университета…