Периферийное сканирование (Boundary Scan)

Периферийное сканирование (Boundary Scan)

Технология периферийного сканирования позволяет выявить дефекты монтажа микросхем, обладающих интерфейсами JTAG. Этот метод контроля качества монтажа электронных блоков особенно актуален при отсутствии физического доступа к выводам электронных компонентов, установленных на печатную плату.

Технология периферийного сканирования расширяет возможности тестовой установки, существенно увеличивая тестовое покрытие, особенно для сложных цифровых изделий, содержащих процессоры, различные виды памяти, программируемую логику, в том числе компоненты с BGA корпусами, в которых ограничен или невозможен физический доступ к внешним и внутренним цепям.

Объединение технологий внутрисхемного контроля и периферийного сканирования, позволяет выполнять особый набор тестов, оптимизируя число перемещений пробников, вследствие чего удается существенно сократить время наладки и выявления сложных дефектов, обнаружить которые трудно или невозможно другими средствами.

Только с помощью периферийного сканирования можно тестировать:

  • микросхемы, которые поддерживают JTAG и не только в корпусе BGA,
  • микросхемы памяти при наличии на них библиотеки BSDL
  • компоненты, которые можно протестировать только с подачей питания на печатный узел

Для того, чтобы у производителя была возможность применить технологию периферийного сканирования для контроля качества изделия,  разработчик печатного узла должен на этапе проектирования предусмотреть последовательное соединение микросхем, поддерживающих JTAG,  а также наличие разъема, через который можно получить доступ к JTAG компонентам.

Для проведения периферийного сканирования в А-КОНТРАКТ используется анализатор периферийного (граничного) сканирования x1149.

Преимущества анализатора периферийного (граничного) сканирования x1149