В условиях возрастания сложности современных изделий электроники технология периферийного (граничного) сканирования становится неотъемлемой частью комплекса мер по обеспечению корректной и точной оценки качества изготавливаемой продукции.

Для осуществления периферийного сканирования на производственной базе А-КОНТРАКТ используется самое передовое оборудование -  анализатор граничного сканирования x1149, соединивший в себе уникальные технологии и обширный метрологический опыт компании-изготовителя Keysight Technologies.

Преимущества анализатора периферийного сканирования   x1149 для оценки качества электронного блока на всех этапах производственного цикла изделия:

• быстрое тестирование
• невысокая стоимость тестовой оснастки
• повторное использование на стадии серийного производства
• широкий спектр тестов (CoverExtend, Silicon Nails, 1149.1 и 1149.6, подтягивающие/заземляющие резисторы)
• результат проведённой оценки представляет собой таблицу отказов до уровня выводов микросхем

Возможности  анализатора периферийного сканирования   x1149:

1. Технология Cover-Extend (охват несканируемых компонентов)
2. Внутрисистемное программирование ПЛМ и ПЛИС
3. Встроенный компоновщик маршрутов сканирования
4. Отчет об отказах до уровня выводов микросхем
5. Встроенный удалённый доступ через Ethernet
6. Тактовая частота тестирования 22,5 МГц
7. 4 выделенных тестовых порта/порта ввода-вывода

Технология Cover-Extend (CET)

Анализатор x1149 -  уникальное настольное оборудование, позволяющее использовать инновационную технологию  Cover-Extend (CET), соединившую граничное сканирование с технологией емкостных датчиков.

Технология  Cover-Extend:

- даёт возможность добиться простоты покрытия
- охватывает тестовым покрытием даже несканируемые компоненты
- даёт возможность не использовать высоко затратные цифровые подключаемые модули для разъёмов
- Применяет  простые в написании библиотеки
- Базируется на испытанной технологии Vectorless Test Extended Performance (VTEP)
- Даёт возможность применять автоматическую отладку

Полные отчёты об отказах

Анализатор x1149 формирует отчёты об отказах до уровня микросхем, с точностью локализуя нахождение дефекта. Отчёт об отказах, содержащий максимально полную информацию, даёт возможность своевременно устранить неисправности тестируемых печатных узлов.

Тестирование шин

Анализатор x1149 обеспечивает максимальную диагностику неисправностей цепей с двунаправленными ячейками граничного сканирования, тестируя их в обоих направлениях. Благодаря тестированию шин, обнаружение дефекта, если таковой имеется, гарантируется вне зависимости от его локализации (в передатчике, в приёмнике либо на обоих концах).

Мониторинг напряжения

Мониторинг напряжения крайне важен как на этапе отладки электронного блока, так и на дальнейшем этапе структурных испытаний изделия. Данная технология позволяет контролировать напряжение на печатном узле, благодаря чему, специалист, проводящий испытания, может быть уверен в том, что нужные линии остаются под напряжением даже между тестами.

Таким образом,  мониторинг напряжения помогает избежать ситуации, когда неправильное питание печатного узла принимается за наличие неисправных компонентов, якобы провоцирующих «отказы» изделия.

Отчёты о тестовом покрытии

Отчёты о тестовом покрытии содержат информацию о достижимом покрытии и об эффективности произведённой оценки печатного узла. Крайне важным является то, что изготовитель  получает эти сведения еще до этапа отправки изделия в серийный выпуск.

Сигнал самого высокого качества

Качество сигнала является одним из ключевых параметров  современных изделий электроники.  Наилучшее управление портами ввода/вывода, обеспечивающее корректную реакцию на сигналы, позволяет избежать ложных срабатываний, обусловленных непреднамеренными сменами состояний.