В условиях возрастания сложности современных изделий электроники технология периферийного (граничного) сканирования становится неотъемлемой частью комплекса мер по обеспечению корректной и точной оценки качества изготавливаемой продукции.
Для осуществления периферийного сканирования на производственной базе А-КОНТРАКТ используется самое передовое оборудование — анализатор граничного сканирования x1149, соединивший в себе уникальные технологии и обширный метрологический опыт компании-изготовителя Keysight Technologies.
Преимущества анализатора периферийного сканирования x1149 для оценки качества электронного блока на всех этапах производственного цикла изделия:
- быстрое тестирование
- невысокая стоимость тестовой оснастки
- повторное использование на стадии серийного производства
- широкий спектр тестов (CoverExtend, Silicon Nails, 1149.1 и 1149.6, подтягивающие/заземляющие резисторы)
- результат проведённой оценки представляет собой таблицу отказов до уровня выводов микросхем
Возможности анализатора периферийного сканирования x1149:
- Технология Cover-Extend (охват несканируемых компонентов)
- Внутрисистемное программирование ПЛМ и ПЛИС
- Встроенный компоновщик маршрутов сканирования
- Отчет об отказах до уровня выводов микросхем
- Встроенный удалённый доступ через Ethernet
- Тактовая частота тестирования 22,5 МГц
- 4 выделенных тестовых порта/порта ввода-вывода