Функциональный контроль печатных плат

Тестирование электронных блоков на стендах типа «ложе гвоздей»

Функциональный контроль и тестирование производятся после сборки печатного узла для оценки соответствия параметров функционирования устройства заданным требованиям.

Функциональный контроль

Функциональный контроль возможно провести как на на универсальном тестере, так и на специальном стенде, который разрабатывается для каждого изделия индивидуально.

Индивидуальный стенд для функционального контроля может быть предоставлен заказчиком либо изготовлен специалистами А-КОНТРАКТ по техническому заданию заказчика.

Тестирование электронных блоков

С помощью специальных тестовых приспособлений типа «ложе гвоздей» производится тестирование собранных печатных плат посредством контактирования тестовых игл с контактными площадками на изделии.

Возможности:

  • подача напряжений питания на изделие, контроль тока потребления
  • подача/снятие управляющих аналоговых тестовых сигналов, проверка их на соответствие требуемым параметрам
  • подача/снятие цифровых сигналов, анализ информации
  • контроль параметров сигналов в контрольных точках изделия
  • внутрисхемное программирование компонентов
  • создание сложных алгоритмов функционального тестирования с использованием языков высокого уровня
  • интеграция с измерительным оборудованием сторонних производителей, имеющих интерфейс GPIB

Данные, полученные при тестировании, могут обрабатываться в любых измерительных системах.

Задать вопрос Новости

При поддержке А-КОНТРАКТ в журнале « СВЧ-электроника»  №1 2022 опубликована новая статья.

Кремниевая оптическая линия связи, объединяющая две различные технологии мультиплексирования, была продемонстрирована научному сообществу группой…

На базе Центра коллективного пользования «Микросистемная техника и электронная компонентная база» МИЭТ стартовала научно-исследовательская программа…

Развитие технологий в современной электронике направлено на уменьшение габаритов и увеличение производительности разрабатываемых и производимых…

Исследователи из «Росэлектроники» и Институт электрофизики Уральского отделения РАН сообщили о начале работ с ферритовыми материалами с целью…

Группа учёных из Японского Национального института материаловедения (National Institute for Materials Science, NIMS) и Токийского университета…