Рентген-контроль и 3D рентген

Контроль качества печатных плат

Производится на установках рентгеновского контроля с нанофокусной трубкой. Рентген-контроль позволяет диагностировать пустоты паянных соединений, скрытые дефекты, что особенно актуально при монтаже микросхем в корпусах BGA, а также дефекты печатных плат, электронных компонентов, паянных соединений.

Для осуществления рентген-контроля используются установки  PHOENIX PCBA|ANALYZER 160 kV с нанофокусной трубкой и Yxlon Y.Cheetah CT с цифровым детектором. Контроль производится в режиме реального времени, в процессе контроля могут быть выполнены снимки. Наши специалисты отслеживают:

  • Качество изготовления печатной платы
  • Внутреннее состояние полупроводниковых приборов
  • Качество паяных соединений согласно IPC-A-610, в том числе и для микросхем в корпусах BGA, µBGA, Flip Chip, CSP (по стандарту IPC-7095)
  • Инспекция электронных компонентов и блоков до монтажа.

Более подробную информацию об услуге рентген-контроля Вы найдёте в разделах «Рентген-контроль» и «3D рентген» на нашем сайте.

Мы осуществляем рентген - контроль печатных плат, электронных блоков и электронных компонентов как в рамках контрактного производства электроники, так и в качестве самостоятельных заказов на рентген-контроль.

 

Задать вопрос Новости

При поддержке А-КОНТРАКТ в журнале « СВЧ-электроника»  №1 2022 опубликована новая статья.

Кремниевая оптическая линия связи, объединяющая две различные технологии мультиплексирования, была продемонстрирована научному сообществу группой…

На базе Центра коллективного пользования «Микросистемная техника и электронная компонентная база» МИЭТ стартовала научно-исследовательская программа…

Развитие технологий в современной электронике направлено на уменьшение габаритов и увеличение производительности разрабатываемых и производимых…

Исследователи из «Росэлектроники» и Институт электрофизики Уральского отделения РАН сообщили о начале работ с ферритовыми материалами с целью…

Группа учёных из Японского Национального института материаловедения (National Institute for Materials Science, NIMS) и Токийского университета…