Годный кристалл (Good Die) — это кристалл (die) интегральной схемы, прошедший электрические испытания на кремниевой пластине (Wafer) и признанный соответствующим техническим требованиям. Такие кристаллы маркируются как пригодные для последующего использования в гибридных сборках (hybrid assembly) или для монтажа в корпус (package).
Процесс тестирования
Испытания проводятся на автоматизированных установках тестирования на пластине (Wafer testing) с помощью пробной головки, содержащей множество микроскопических контактов. Каждый кристалл проверяется на соответствие электрическим параметрам, включая потребляемую мощность (power consumption), быстродействие (speed) и функциональность (functionality).
Методы маркировки
Годные кристаллы обычно отмечаются на пластине с помощью:
-
Чернильной точки (ink dot) — традиционный метод
-
Электронной карты (electronic map) — современный бесконтактный метод
-
Лазерной маркировки (laser marking) — для особо ответственных применений
Статистика выхода годных кристаллов
Выход годных кристаллов (Yield) рассчитывается по формуле:
Y = (N_g / N_t) × 100%
где:
-
Y — выход годных, %
-
N_g — количество годных кристаллов
-
N_t — общее количество кристаллов на пластине
Контроль качества
Качество годных кристаллов подтверждается:
-
Визуальным контролем (visual inspection) под микроскопом
-
Автоматическим оптическим контролем (automated optical inspection)
-
Электрическими измерениями (electrical measurement) параметров
-
Анализом дефектов (defect analysis) на поверхности кристалла
Дальнейшее использование
Годные кристаллы используются для:
-
Монтажа в корпус (packaging) с помощью проволочных выводов (wire bond)
-
Изготовления многокристальных модулей (multi-chip module)
Источники: Требования к испытаниям и классификации кристаллов установлены в стандартах IPC-7091 и JEDEC JESD22.