Комплексные решения для проведения зондовых измерений. Особенности измерений на полупроводниковой пластине.

При изготовлении изделий электроники неотъемлемой частью производственного процесса является контроль электрических параметров. А если говорить о полупроводниковых приборах, то контролировать их характеристики требуется на всех стадиях изготовления. Зондовые измерения как раз и являются одним из типов такого контроля. Они дают возможность произвести оценку качества исходной пластины, выполнить межоперационный контроль, параметрический и функциональный анализ изделия. Помимо этого, измерения на пластине проводятся для определения основных параметров разрабатываемых устройств перед установкой в корпус для разбраковки и сортировки по градации процента разброса номиналов. Благодаря этому становится возможным минимизировать дополнительные затраты и уменьшить себестоимость изготавливаемых изделий.