Идентификация фальшивых электронных компонентов: пример из практики. Часть 3
Это достигается с помощью использования микроволновой плазмы, чтобы начисто убрать материал капсулирующего вещества [7]. Рис.4 показывает, что при вскрытии корпуса определилось, что для этих деталей SRAM были использованы два различные кристалла. Хотя это обнаружилось, это еще не означает, что это подделка, так как есть вероятность, что могло произойти уменьшение размеров отдельных структур кристалла. Коды данных на корпусах указывают, что кристалл и рамка с выводами вышли от производителя деталей двумя годами ранее, с другой версией, то есть были не для одной детали. Это еще один указатель, что использование более старых деталей с новыми датой и кодом партии предполагают подделку.
Результаты вскрытия корпуса привели к другой оценки состава формы, чтобы определить, была ли заменена форма упаковки после повторного использования. Были проверены две зоны, поверхность состава формы и лазерная маркировка. Рис.5 показывает текстуру поверхности состава формы двух корпусов, одного от дистрибьютора, другого от брокера. При большом увеличении становится ясно, что есть разница, предполагается, что были использованы два разных состава формы для капсулирования кристалла внутри корпуса из двух разных источников.
Оценка лазерной маркировки для определения аномалий включает тщательную инспекцию поверхности состава формы. Согласно производителю оригинальных компонентов: В процессе нанесения маркировки лазер может нанести ущерб находящемуся под ним кристаллу или проводам, если он проникает слишком глубоко в корпус или формовочный материал. В принципе лазер создает канавку, выжигая состав пресс-формы, чтобы сделать видимой маркировку. Канавка или ее глубина может варьироваться в зависимости от скорости, мощности и частоты пульсирования лазерного маркера. Чтобы это измерить, требуется специальное оборудование для измерения глубины канавки из-за ее маленьких размеров [8].
Как указано на Рис.6, замечается четкая разница в текстуре маркировки. Поскольку глубина травления или удаления формовочного состава может нанести ущерб функции полупроводникового устройства, важно контролировать глубину. Маркировка на детали дистрибьютора гладкая, тогда как маркировка брокера шероховатая, а присутствие стеклянных гранул в зоне маркировки указывает на неправильно выполненную маркировку.
FTIR (инфракрасная спектроскопия на основе преобразования Фурье)
Инфракрасная спектроскопия на основе преобразования Фурье (FTIR) [9] – это метод, используемый для получения инфракрасного спектра поглощения или излучения твердого тела, жидкости или газа. FTIR спектрометр одновременно собирает данные с высоким спектральным разрешением с широкого диапазона спектра. Это дает существенное преимущество перед диспергирующим спектрометром, который измеряет интенсивность в узком диапазоне длин волн за раз [10]. Для данной ситуации FTIR использовался для оценки целостности органического компаунда пресс-формы. Когда для нанесения повторной маркировки ранее используемых деталей используется процесс зачернения поверхности, FTIR обеспечивает возможность различить два разных материала. Материалы, из которых состоит корпус компонента, и любой зачерняющий материал, используемый чтобы скрыть доказательства подделки, все они являются органическими полимерами. Как показывают спектроскопические измерения на Рис.7, заметна очевидная разница в ответах между деталями. Если использовать деталь дистрибьютора как образец, то ответ детали брокера предполагает присутствие другого материала. Зачерняющий материал добавлена на базовый материал и, соответственно, он создает отличный от базового материала ответ. Это измерение – еще один указатель несоответствия между двумя деталями от различных поставщиков.
Источник: SMT Magazine, July 2017
