NDT. Meratek. Неразрушающий контроль и техническая диагностика в промышленности. 2012

Время проведения: 28 февраля - 1 марта 2012 г.
Место проведения: Москва, СК "Олимпийский"


Тематики выставки

  • Лабораторный контроль в промышленности
  • Антитеррористическая диагностика
  • Экологическая диагностика
  • Техногенная диагностика

NDT — крупнейшая в России международная выставка приборов и оборудования для промышленного неразрушающего контроля и технической диагностики. За прошедшие годы выставка и конференция NDT Russia стали значительным событием для российской промышленности, позволяя расширить рынки сбыта, привлекать новые технологии и оборудование. Опыт прошлых лет подтвердил на практике, что NDT является демонстрацией лучших образцов и способствует внедрению в промышленности передовых методов и средств неразрушающего контроля и технической диагностики, направленных на повышение качества и безопасности применения продукции. В 2006 году выставке NDT были присвоены Знак Российского Союза выставок и ярмарок и знак UFI — знаки высокого качества выставочного мероприятия.

Сайт выставки: ndt-russia.primexpo.ru

Задать вопрос Новости

Группа учёных из Университета МИСИС и НИЦ «Курчатовский институт» оптимизировали технологию изготовления сверхтонких проводов, которые используются в…

Китайская компания GAC сумела создать летающий автомобиль. Разработчики назвали первую модель флаера GOVE. Демонстрация тестового полёта…

А-КОНТРАКТ запускает третью производственную площадку, на которой будет выполняться весь спектр работ по сборке, контролю и испытаниям электронных…

Как правило, гибкая электроника производится на базе мягких полимеров. Это эластичные материалы, которые включают длинные молекулярные цепочки,…

Благодаря их разработке можно будет контролировать электрохимические свойства композита, проектируя и динамически изменяя их. По новой технологии уже…

Начата разработка отечественной модульной платформы для предприятий отрасли автомобилестроения. Планируется, что реализация проекта продлится 2 года и…

Разработка учёных из Калифорнийского университета поможет решить проблему миниатюризации электронных компонентов, увеличив при этом их…