Sensor Test Kazakhstan 2012

Время проведения: 28 февраля - 1 марта 2012г.
Место проведения: Казахстан, Алматы, КЦДС «Атакент»

Выставка Sensor Test Kazakhstan 2012 - первая профессиональная выставка в области сенсорных, измерительных и тестовых технологий для всех отраслей промышленности, а также для фактически всех областей нашей повседневной жизни.

Тематика мероприятия:

  • элементы датчиков, датчики, сенсорные системы и сенсорные измерительные приборы
  • средства измерения
  • испытательное и аналитическое оборудование
  • эталонное оборудование
  • весы и весовые компоненты
  • оборудование для диагностики и неразрушающего контроля
  • аппаратура и приборы исследовательских лабораторий, устройства калибровки, устройства анализа и поверяющие приборы
  • измерительные приборы и автоматизация
  • компоненты, устройства, системы и программное обеспечение для технических измерений
  • услуги по измерению и тестированию
  • микросистемная технология
  • наноматериалы и нанотехнологии

Сайт выставки: strexpo.ru

Задать вопрос Новости

Роскосмос предложил включить создание и запуск транспортных аппаратов с ядерными энергетическими установками в число ключевых проектов долгосрочной…

Исследователи из Принстонского университета объединили живые клетки мозга и современную электронику в едином трёхмерном устройстве. Как сообщается в…

А-КОНТРАКТ представит решения для производства электроники для БПЛА и авиационно-космической отрасли на выставке ДРОНЭКСПО-2026.

Какие сдвиги происходят сегодня в космической отрасли, и как они  меняют «правила игры» для инженеров-электронщиков? В этом обзоре мы сфокусируемся на…

Студенты и молодые ученые НИЯУ МИФИ спроектировали и собрали малогабаритный радиоинтерферометр. Как сообщили представители вуза, прибор отличается…

Стек печатной платы — ключевой этап проектирования, определяющий расположение слоёв, материалы и структуру платы. От грамотного выбора стека зависят…

Студенты Московского авиационного института разработали прототип программы, предназначенной для восстановления потерянных данных о положении…