Industrial Testing & Control 2016

Время выставки: 25 - 27 октября 2016 г.
Место выставки: Москва

Международная выставка Testing & Control - это эффективная бизнес-площадка для решения ряда задач:

-    для участников – найти новых клиентов, расширить географию продаж, продвинуть продукцию
-    для посетителей – найти за короткий промежуток времени необходимый товар на выгодных условиях, путем выбора из большого количества предложений

На выставке Testing & Control представлен широкий спектр испытательного и контрольно-измерительного оборудования для авиационной, ракетно-космической, машиностроительной, металлургической,  строительной,  электронной промышленности, нефтегазовой отрасли, энергетики и других отраслей промышленности.

Посетители выставки имеют возможность выбрать:

  •     Оборудование для климатических испытаний
  •     Оборудование для механических испытаний
  •     Оборудование для неразрушающего контроля
  •     Метрологическое оборудование
  •     Оборудование для производственного контроля
  •     Промышленное диагностическое оборудование
  •     Оборудование для лабораторного контроля

Сайт выставки: www.testing-control.ru

Задать вопрос Новости

От всего сердца поздравляем с Новым годом!

Исследователи из Алтайского государственного аграрного университета запатентовали новый термоэлектрический аккумулятор, который способен восполнять…

Новые фотоэлектрохимические транзисторы функционируют по тому же принципу, что и синапсы в мозге человека, преобразуя свет в электрический сигнал. Эта…

В статье описаны интересные проекты, реализованные инженерами А-КОНТРАКТ за более чем 20-летний срок работы предприятия на российском рынке…

Отечественная космическая компания SR Space сообщает, что работы над космическими аппаратами ведутся без перерывов.

Чип-бондинг — это процедура фиксации электронных компонентов на плате при помощи специального клея (адгезива). Её выполнение в процессе SMT-монтажа…

Разработка может быть перспективной для применения в устройствах сверхбыстрой связи, приборах определения дальности, в сфере спектроскопии и…