Industrial Testing & Control 2016

Время выставки: 25 - 27 октября 2016 г.
Место выставки: Москва

Международная выставка Testing & Control - это эффективная бизнес-площадка для решения ряда задач:

-    для участников – найти новых клиентов, расширить географию продаж, продвинуть продукцию
-    для посетителей – найти за короткий промежуток времени необходимый товар на выгодных условиях, путем выбора из большого количества предложений

На выставке Testing & Control представлен широкий спектр испытательного и контрольно-измерительного оборудования для авиационной, ракетно-космической, машиностроительной, металлургической,  строительной,  электронной промышленности, нефтегазовой отрасли, энергетики и других отраслей промышленности.

Посетители выставки имеют возможность выбрать:

  •     Оборудование для климатических испытаний
  •     Оборудование для механических испытаний
  •     Оборудование для неразрушающего контроля
  •     Метрологическое оборудование
  •     Оборудование для производственного контроля
  •     Промышленное диагностическое оборудование
  •     Оборудование для лабораторного контроля

Сайт выставки: www.testing-control.ru

Задать вопрос Новости

В статье «Как физика низких орбит влияет на производство электроники» были описаны виды низкоорбитальных спутниковых систем и требования к электронным…

Учёные из консорциума Национального центра физики и математики (НЦФМ) впервые в стране получили мемристорные микросхемы, предназначенные для создания…

Ученые Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники (ТУСУР) совместно с компанией «Решетнев» спроектировали устройство,…

Специалистами Пермского национального исследовательского политехнического университета (ПНИПУ) представлена компактная лазерная установка,…

С 14 по 16 апреля 2026 года А-КОНТРАКТ принял участие в 27-й международной выставке электронных компонентов, модулей и технологий ExpoElectronica,…

Интервью директора А-КОНТРАКТ М. В. Поляничко опубликованно в журнале «Электроника НТБ» №3'2026.

Низкоорбитальные спутниковые системы и требования к электронным сборкам для них.