Даты проведения: 23- 25 апреля 2014
Место проведения:  Москва, ЦВК  «Экспоцентр»

6-я специализированная выставка приборов и средств контроля, измерений и испытаний

"Экспо Контроль - 2014" - ведущая выставка в России, посвящённая важнейшим и неотъемлемым этапам любого технологического процесса в промышленном производстве - контролю, измерениям и испытаниям; эффективный механизм продвижения новейших информационно-измерительных систем и технологий в промышленность России и стран СНГ для повышения качества и конкурентоспособности продукции высокотехнологичных предприятий.

Салон "VIT Expo" посвящён технологиям промышленной обработки изображений, а также инновационному направлению в мире компьютерных технологий - машинному зрению, скоростной видеосъёмке.

Основные тематические разделы:

  • Контроль и измерения
  • Испытания и тестирование
  • Датчики и сенсоры
  • 3D-измерения
  • Мискроскоп и наноизмерения
  • Бесконтактные измерения
  • Линейно-угловые измерения
  • Неразрушающий контроль
  • Обработка изображений и машинное зрение
  • Салон "VIT Expo"
  • Салон "Space & Defense Testing"

 

Официальный сайт выставки: www.rual-interex.ru

Задать вопрос Новости

Учёные из консорциума Национального центра физики и математики (НЦФМ) впервые в стране получили мемристорные микросхемы, предназначенные для создания…

Ученые Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники (ТУСУР) совместно с компанией «Решетнев» спроектировали устройство,…

Специалистами Пермского национального исследовательского политехнического университета (ПНИПУ) представлена компактная лазерная установка,…

С 14 по 16 апреля 2026 года А-КОНТРАКТ принял участие в 27-й международной выставке электронных компонентов, модулей и технологий ExpoElectronica,…

Интервью директора А-КОНТРАКТ М. В. Поляничко опубликованно в журнале «Электроника НТБ» №3'2026.

Низкоорбитальные спутниковые системы и требования к электронным сборкам для них.

Специалисты Национального исследовательского университета МИЭТ разработали методику точного мониторинга работы микросхем, предназначенных для…