Electrotest Japan
19-21 January 2011, Tokio
Международная выставка, проводится с 1983 года.
На выставке представлено:
* измерительное оборудование
* оптическое и рентгеновское оборудование
* полупроводники
ELECTROTEST JAPAN features all lines of test, inspection and measuring systems for SMT, IC Packaging and board manufacturing. Held inside NEPCON JAPAN, Asia's LARGEST AMT/electronics manufacturing exhibition, ELECTROTEST JAPAN gathers World's TOP companies showcasing their cutting-edge technologies.
Выставка 2011 года завершилась. Информация о следующей выставке - на официальном сайте: http://www.electrotest.jp/en/.
В ходе исследования свойств графена группе учёных из Америки удалось синтезировать новый тип материалов, так называемые интеркристаллы, который может…
В статье рассматриваются различные виды встраиваемых компонентов, их преимущества и недостатки при использовании в современных электронных…
Начата работа над перспективным проектом в отрасли самолётостроения. Проект носит название «СГС-Т3». Конечным результатом работы должно стать…
Группе исследователей из Китая удалось улучшить характеристики полупроводника AgCu(Te, Se, S) (в состав материала входят серебро, медь, теллур, селен…
CAN-шина (Controller Area Network) — это сеть, предназначенная для установления эффективных каналов связи между микроконтроллерами через витую пару…
Отечественный рынок электронных компонентов для базовых станций (БС) сотовой связи демонстрирует устойчивый рост после ухода таких мировых лидеров как…
Объединенная авиастроительная корпорация сообщила о завершении предпоследнего этапа испытаний авиалайнера SJ-100. Летательный аппарат успешно совершил…