Electrotest Japan

19-21 January 2011, Tokio

Международная выставка, проводится с 1983 года.

На выставке представлено:
* измерительное оборудование
* оптическое и рентгеновское оборудование
* полупроводники

ELECTROTEST JAPAN features all lines of test, inspection and measuring systems for SMT, IC Packaging and board manufacturing. Held inside NEPCON JAPAN, Asia's LARGEST AMT/electronics manufacturing exhibition, ELECTROTEST JAPAN gathers World's TOP companies showcasing their cutting-edge technologies.

Выставка 2011 года завершилась. Информация о следующей выставке - на официальном сайте: http://www.electrotest.jp/en/.

Задать вопрос Новости

Учёные из консорциума Национального центра физики и математики (НЦФМ) впервые в стране получили мемристорные микросхемы, предназначенные для создания…

Ученые Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники (ТУСУР) совместно с компанией «Решетнев» спроектировали устройство,…

Специалистами Пермского национального исследовательского политехнического университета (ПНИПУ) представлена компактная лазерная установка,…

Интервью директора А-КОНТРАКТ М. В. Поляничко опубликованно в журнале «Электроника НТБ» №3'2026.

Низкоорбитальные спутниковые системы и требования к электронным сборкам для них.

Специалисты Национального исследовательского университета МИЭТ разработали методику точного мониторинга работы микросхем, предназначенных для…

Национальный исследовательский центр «Институт имени Жуковского» получил патент на конструкцию перспективного пассажирского самолёта, способного…