Electrotest Japan

19-21 January 2011, Tokio

Международная выставка, проводится с 1983 года.

На выставке представлено:
* измерительное оборудование
* оптическое и рентгеновское оборудование
* полупроводники

ELECTROTEST JAPAN features all lines of test, inspection and measuring systems for SMT, IC Packaging and board manufacturing. Held inside NEPCON JAPAN, Asia's LARGEST AMT/electronics manufacturing exhibition, ELECTROTEST JAPAN gathers World's TOP companies showcasing their cutting-edge technologies.

Выставка 2011 года завершилась. Информация о следующей выставке - на официальном сайте: http://www.electrotest.jp/en/.

Задать вопрос Новости

Учёные из консорциума Национального центра физики и математики (НЦФМ) впервые в стране получили мемристорные микросхемы, предназначенные для создания…

Ученые Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники (ТУСУР) совместно с компанией «Решетнев» спроектировали устройство,…

Специалистами Пермского национального исследовательского политехнического университета (ПНИПУ) представлена компактная лазерная установка,…

С 14 по 16 апреля 2026 года А-КОНТРАКТ принял участие в 27-й международной выставке электронных компонентов, модулей и технологий ExpoElectronica,…

Интервью директора А-КОНТРАКТ М. В. Поляничко опубликованно в журнале «Электроника НТБ» №3'2026.

Низкоорбитальные спутниковые системы и требования к электронным сборкам для них.

Специалисты Национального исследовательского университета МИЭТ разработали методику точного мониторинга работы микросхем, предназначенных для…