Новости и статьи о производстве и монтаже печатных плат

Электрический тест.

Привлечение внешних ресурсов для электрического теста обеспечило независимую оценку производительности детали. Внешний источник определил несколько конфигураций кристалла от электрического теста, однако, некоторые детали не прошли повторное тестирование.

ВНИМАНИЕ! В московском офисе А-контракт изменился номер контактного телефона. Наш новый номер – 8(499)350-32-11. Будем рады Вашим звонкам!

Вскрытие корпуса.

Вскрытие корпуса корпусированных устройств открывает внутренние компоненты корпуса. Открытые путем вскрытия корпуса устройства дают возможность проинспектировать кристалл, межсоединения и другие характеристики, которые обычно проверяются при анализе нарушений. Анализ нарушений…

Информация по анализируемой ситуации.

Во время функционального теста контрольных модульных плат, используемых во многих подструктура тестируемой антенны, две платы показали нарушения. Причиной нарушений было определено «неспособность записать конкретные адреса на системной скорости».

Какой минимальный правильный зазор между круглым свинцовым проводником и отверстием печатной платы, который дает возможность правильного заполнения припоем? Можете вы дать нам рекомендации с рекомендуемым соотношением компонентов со сквозными отверстиями к диаметру отверстия? Что можно сделать,…

Резюме.

Контрафактные электронные компоненты прорвались в сегодняшнюю военную электронику. Проблема становится еще более острой при приобретении DMS деталей (снижающие производственные ресурсы).

Мы проводим небольшие работы, поэтому пакет MSD компонентов может быть открыт и закрыт несколько раз. Каждый раз мы кладем новую упаковку влагопоглотителя и индикатор влаги в пакет MSD. Если мы суммируем то время, что мы открываем этот пакет, то оно превысит 168 часов. Если индикатор влаги не…

Данные, показанные на Рис.4, - это схемы с микрополосковой линией передачи, использующие метод дифференциальной фазовой длины [4].

Хотя эта информация важна для понимания данных в Таблице 2, она ограничена тестированием при 10 ГГц, что намного ниже миллиметровых частот, и к тому же тестировались только сырые материалы.

Существуют и другие вопросы, связанные с диэлектрической постоянной, кроме импеданса, которые могут оказаться очень важными для mmWave частот.