Причинами создания этой статьи послужили часто задаваемые на данную тему вопросы, а также множество несоответствий, найденных аудиторами на производственных предприятиях в течение последних десяти лет.

При изготовлении изделий электроники неотъемлемой частью производственного процесса является контроль электрических параметров. А если говорить о полупроводниковых приборах, то контролировать их характеристики требуется на всех стадиях изготовления. Зондовые измерения как раз и являются одним из…

Удаление влагозащитного покрытия с поверхности печатного узла является важным технологическим процессом на современных предприятиях, изготавливающих изделия электроники. Как раньше, производители не прекращают попыток найти наиболее оптимальный способ удаления влагозащитного покрытия без вреда для…

Дирижер оркестра – это подходящая метафора для успешного лидера. Эффективное лидерство зачастую представляет собой способность вдохновить других (симфония) на их лучшую работу, при этом сохраняя и управляя общим видением организации (музыкальной партией). Освобожденные от рутинных ежедневных…

К чему стремятся современные производителя электроники? Ответ на этот, а также многие другие актуальные вопросы контрактного производства электроники были найдены на выставке productronica 2017, которая состоялась в выставочном центре Мюнхена с 14 по 17 ноября 2017 года. Участниками выставки стали…

Цель всей этой интеграции электроники – собрать больше данных, снизить количество ошибок в диагнозах или лечении и улучшить уровень комфорта пациентов. Меньший форм-фактор, но возможно более вездесущая область роста технологий - беспроводная связь. Недавний отчет «Исследования и Рынки» оценивает…

Если вы производитель электроники и вы спрашиваете своих бизнес банкиров, где их исследования рынка предполагают наибольший грядущий рост, они почти наверняка назовут ключевой зоной роста медицинскую электронику. За последние пять лет данный сегмент занял что-то близкое к 6% CAAGR с ускорением,…

Электрический тест.

Привлечение внешних ресурсов для электрического теста обеспечило независимую оценку производительности детали. Внешний источник определил несколько конфигураций кристалла от электрического теста, однако, некоторые детали не прошли повторное тестирование.

Вскрытие корпуса.

Вскрытие корпуса корпусированных устройств открывает внутренние компоненты корпуса. Открытые путем вскрытия корпуса устройства дают возможность проинспектировать кристалл, межсоединения и другие характеристики, которые обычно проверяются при анализе нарушений. Анализ нарушений…

Информация по анализируемой ситуации.

Во время функционального теста контрольных модульных плат, используемых во многих подструктура тестируемой антенны, две платы показали нарушения. Причиной нарушений было определено «неспособность записать конкретные адреса на системной скорости».